Perbandingan Uji Iklim dan Uji LingkunganUji lingkungan iklim -- ruang uji suhu dan kelembaban konstan, ruang uji suhu tinggi dan rendah, ruang uji guncangan dingin dan panas, ruang uji bergantian basah dan panas, ruang uji perubahan suhu cepat, ruang uji perubahan suhu linear, ruang uji suhu dan kelembapan konstan, dll. Semuanya melibatkan kontrol suhu.Karena ada beberapa titik kontrol suhu yang dapat dipilih, metode kontrol suhu ruang iklim juga memiliki tiga solusi: kontrol suhu saluran masuk, kontrol suhu produk, dan kontrol suhu "berjenjang". Dua yang pertama adalah kontrol suhu satu titik, dan yang ketiga adalah kontrol suhu dua parameter.Metode kendali suhu titik tunggal sudah sangat matang dan digunakan secara luas.Sebagian besar metode kontrol awal adalah kontrol sakelar "ping-pong", yang umumnya dikenal sebagai pemanasan saat dingin dan pendinginan saat panas. Mode kontrol ini adalah mode kontrol umpan balik. Ketika suhu aliran udara yang bersirkulasi lebih tinggi dari suhu yang ditetapkan, katup elektromagnetik pendinginan dibuka untuk mengalirkan volume dingin ke aliran udara yang bersirkulasi dan mengurangi suhu aliran udara. Jika tidak, sakelar sirkuit perangkat pemanas dihidupkan untuk langsung memanaskan aliran udara yang bersirkulasi. Menaikkan suhu aliran udara. Mode kontrol ini mengharuskan perangkat pendingin dan komponen pemanas ruang uji selalu dalam keadaan kerja siaga, yang tidak hanya membuang banyak energi, tetapi juga parameter yang dikontrol (suhu) selalu dalam keadaan "osilasi", dan akurasi kontrolnya tidak tinggi.Kini metode kendali suhu titik tunggal sebagian besar diubah ke metode kendali proporsional diferensial integral (PID) universal, yang dapat memberikan koreksi suhu terkendali menurut perubahan parameter terkendali sebelumnya (kendali integral) dan tren perubahan (kendali diferensial), yang tidak hanya menghemat energi, tetapi juga amplitudo "osilasi" kecil dan akurasi kendali tinggi.Kontrol suhu parameter ganda adalah untuk mengumpulkan nilai suhu saluran masuk udara ruang uji dan nilai suhu di dekat produk pada saat yang bersamaan. Saluran masuk udara ruang uji sangat dekat dengan posisi pemasangan evaporator dan pemanas di ruang modulasi udara, dan besarnya secara langsung mencerminkan hasil modulasi udara. Menggunakan nilai suhu ini sebagai parameter kontrol umpan balik memiliki keuntungan dalam memodulasi parameter status udara yang bersirkulasi dengan cepat.Nilai suhu di dekat produk menunjukkan kondisi lingkungan suhu sebenarnya yang dialami oleh produk, yang merupakan persyaratan spesifikasi uji lingkungan. Menggunakan nilai suhu ini sebagai parameter kontrol umpan balik dapat memastikan efektivitas dan kredibilitas uji lingkungan suhu, sehingga pendekatan ini mempertimbangkan keuntungan keduanya dan persyaratan pengujian yang sebenarnya. Strategi kontrol suhu parameter ganda dapat menjadi "kontrol pembagian waktu" independen dari dua kelompok data suhu, atau dua nilai suhu yang tertimbang dapat digabungkan menjadi satu nilai suhu sebagai sinyal kontrol umpan balik menurut koefisien pembobotan tertentu, dan nilai koefisien pembobotan terkait dengan ukuran ruang uji, kecepatan angin aliran udara yang bersirkulasi, ukuran laju perubahan suhu, keluaran panas dari pekerjaan produk, dan parameter lainnya.Karena perpindahan panas merupakan proses fisik dinamis yang kompleks, dan sangat dipengaruhi oleh kondisi lingkungan atmosfer di sekitar ruang uji, kondisi kerja sampel yang diuji itu sendiri, dan kompleksitas strukturnya, maka sulit untuk membuat model matematika yang sempurna untuk kontrol suhu dan kelembapan ruang uji. Untuk meningkatkan stabilitas dan akurasi kontrol, teori dan metode kontrol logika fuzzy diperkenalkan dalam kontrol beberapa ruang uji suhu. Dalam proses kontrol, mode berpikir manusia disimulasikan, dan kontrol prediktif diadopsi untuk mengontrol medan ruang suhu dan kelembapan dengan lebih cepat.Dibandingkan dengan suhu, pemilihan titik pengukuran dan kontrol kelembaban relatif sederhana. Selama aliran sirkulasi udara lembab yang diatur dengan baik ke dalam ruang uji siklus suhu tinggi dan rendah, pertukaran molekul air antara udara basah dan benda uji dan keempat dinding ruang uji sangat kecil. Selama suhu udara yang bersirkulasi stabil, aliran udara yang bersirkulasi dari memasuki ruang uji ke keluar ruang uji sedang dalam proses. Kadar air udara basah berubah sangat sedikit. Oleh karena itu, nilai kelembaban relatif udara yang terdeteksi di setiap titik medan aliran udara yang bersirkulasi di kotak uji, seperti saluran masuk, aliran tengah medan aliran atau saluran keluar udara balik, pada dasarnya sama. Karena itu, di banyak ruang uji yang menggunakan metode bola basah dan kering untuk mengukur kelembaban, sensor bola basah dan kering dipasang di saluran keluar udara balik ruang uji. Selain itu, dari desain struktural kotak uji dan kemudahan perawatan dalam penggunaan, sensor bola basah dan kering yang digunakan untuk pengukuran dan kontrol kelembapan relatif ditempatkan di saluran masuk udara balik untuk memudahkan pemasangan, dan juga membantu mengganti kasa bola basah secara teratur dan membersihkan kepala penginderaan suhu resistansi PT100, dan sesuai dengan persyaratan uji panas basah GJB150.9A 6.1.3. Kecepatan angin yang melewati sensor bola basah tidak boleh lebih rendah dari 4,6 m/s. Sensor bola basah dengan kipas kecil dipasang di saluran keluar udara balik untuk memudahkan perawatan dan penggunaan.
Aplikasi Ruang Uji Kejutan TermalRuang uji kejut termal adalah peralatan uji yang sangat diperlukan untuk bidang penerbangan, otomotif, peralatan rumah tangga, penelitian ilmiah, dan bidang lainnya, yang digunakan untuk menguji dan menentukan parameter serta kinerja produk dan material listrik, elektronik, dan lainnya setelah perubahan suhu lingkungan dalam suhu tinggi, suhu rendah, tingkat kelembapan dan panas yang bergantian atau pengujian konstan; Atau pengujian panas lembab konstan setelah suhu lingkungan mengubah parameter dan kinerja. Berlaku untuk sekolah, pabrik, posisi penelitian, dll.1, ruang uji benturan suhu tinggi dan rendah dengan putaran sistem otomatis dan presisi tinggi, tindakan bagian apa pun, pemrosesan penguncian PLC penuh, semua menggunakan kontrol kalkulasi otomatis PID, presisi kontrol suhu tinggi, desain siklus sirkulasi udara ilmiah canggih, membuat suhu dalam ruangan seragam, menghindari sudut mati; Perangkat perlindungan lengkap menghindari kemungkinan bahaya tersembunyi dan memastikan keandalan peralatan dalam jangka panjang.2, ruang uji dampak suhu tinggi dan rendah mengadopsi perangkat pengukuran canggih, dan pengontrol mengadopsi pengontrol antarmuka manusia-mesin LCD berwarna besar, yang mudah dioperasikan, mudah dipelajari, stabil dan andal, serta menampilkan status operasi sistem lengkap, kurva program eksekusi dan pengaturan dalam bahasa Mandarin dan Inggris. Dengan 96 spesifikasi pengujian yang ditetapkan secara independen, waktu dampak 999 jam 59 menit, siklus siklus 1~999 kali dapat diatur, dapat mewujudkan pengoperasian otomatis lemari es, untuk sebagian besar mencapai otomatisasi, mengurangi beban kerja operator, dapat secara otomatis memulai dan menghentikan pekerjaan kapan saja.3. Sisi kiri ruang uji memiliki lubang uji dengan diameter 50mm, yang dapat digunakan untuk menguji komponen kabel dengan beban daya eksternal. Dapat secara independen mengatur suhu tinggi, suhu rendah, dan dingin serta guncangan termal tiga kondisi fungsi yang berbeda, dan dalam penerapan kondisi dingin dan guncangan termal, Anda dapat memilih dua atau tiga fungsi palung dan pembilasan dingin, pembilasan panas, dengan fungsi mesin uji suhu tinggi dan rendah.
Proyek Uji Modul Surya1. Spesifikasi uji keandalan modul surya:Uji keandalan modul surya adalah untuk mengonfirmasi kinerja modul surya (awal), dan spesifikasi pengujian untuk modul tersebut terutama adalah tiga spesifikasi pengujian IEC61215, IEC61646, UL1703. IEC61215 cocok untuk modul kristal (Si); IEC61646 cocok untuk modul film tipis (Thin-flm); UL1703 cocok untuk modul surya kristal dan film tipis. Selain itu, spesifikasi energi surya GB dan CNS sebagian dimodifikasi dari IEC.2. Hubungan dan pentingnya Pameran Makro dan proyek uji energi surya:Menurut IEC61215, item pengujian IEC61646 berjumlah sekitar 10 (item pengujian modul surya sesuai dengan tabel umum). Di antaranya, peralatan pengujian yang diproduksi oleh Hongjian akan digunakan, dan kondisi pengujian yang relevan adalah siklus suhu (siklus termal, 10.11). Ada tiga kategori yaitu pembekuan kelembapan (10.12) dan panas lembap (10.13), sedangkan UL1703 hanya memiliki dua item siklus suhu pembekuan basah tanpa item panas lembap.3. Uji siklus termal (Thermal cycling) EC61215-10-11:Uji siklus suhu modul surya digunakan untuk menentukan kelelahan, kegagalan termal, atau kegagalan tegangan lainnya yang disebabkan oleh perubahan suhu modul yang berulang. Jumlah siklus suhu saat ini adalah 200 kali, dan tren masa depan akan menjadi 600 kali (menurut hasil uji American Association for Renewable Energy [NREL], tingkat penurunan daya 600 kali lebih besar dari 200 kali lipat).Melalui siklus suhu: cacat pada modul dapat ditemukan: pertumbuhan retakan, retakan modul, kelengkungan, delaminasi material penyegel, pengelupasan titik, korosi kaca... Mari kita tunggu.Kondisi suhu: Suhu rendah: -40℃, suhu tinggi: 85 °C (IEC), 90 °C (UL), variabilitas suhu tercepat (rata-rata): 100 °C / jam, 120 °C / jam, pengukuran yang relevan perlu dilakukan selama pengujian (menggunakan sistem pengukuran energi surya Qingsheng), proses pengujian perlu mengukur modul: suhu permukaan modul, tegangan dan arus, kontinuitas tanah, isolasi... Mari kita tunggu.4. Tujuan dari proses pengujian siklus suhu melalui bias:Proses pengujian siklus temperatur, spesifikasi mengharuskan melalui bias, tujuan pengujian adalah untuk membuat Sel yang rusak memanas guna mempercepat penuaan dan mempercepat tujuan pengujian kegagalan, sehingga perlu diberi energi di atas 25℃ selama proses siklus temperatur, laboratorium di Amerika Serikat memiliki statistik, Ditemukan bahwa perbedaan antara tingkat kegagalan modul surya dengan daya dan tanpa daya setinggi 30%, dan data eksperimen menunjukkan bahwa jika tidak ada daya, modul surya tidak mudah gagal dalam lingkungan siklus temperatur, jadi saat melakukan pengujian siklus temperatur sel surya (Cel) & modul, perlu dicocokkan dengan sistem pengukuran khusus.5. pengenalan uji beku basah lEC61215-10-12:Keterangan: Untuk menentukan apakah komponen cukup tahan terhadap kerusakan korosi dan kemampuan ekspansi kelembaban untuk memperluas molekul material, kelembaban beku adalah tekanan untuk menentukan penyebab kegagalan. Untuk produk yang akan diuji, tekanan uji adalah suhu tinggi dan kelembaban tinggi (85℃/85%RH) ke suhu rendah (-40℃ kelembaban 85%RH). Pertahankan hingga 25℃), dan kenaikan suhu rendah ke suhu tinggi dan kelembaban tinggi, daripada 85℃/85%RH/20 jam, 85℃/85%RH/20 jam, tujuan 85℃/85%RH/20 jam adalah membiarkan modul di sekitarnya penuh air, waktu diam 20 jam terlalu pendek, tidak cukup bagi air untuk menembus ke dalam modul dan kotak sambungan di dalamnya.Melalui uji beku basah: Cacat modul dapat ditemukan: retak, melengkung, korosi parah, laminasi bahan penyegel, kegagalan delaminasi perekat kotak sambungan & akumulasi air, isolasi basah **... Dll.Kondisi pengujian: 85 ℃ / 85% RH (jam) 20-40 ℃ (0,5 ~ 4 jam), pemanasan maksimum 100, 120 ℃ / jam, dan suhu maksimum 200 ° C / jam.6. Tujuan uji beku basah:Metode uji pembekuan basah terutama melakukan dua jenis kerusakan pada modul surya di lingkungan bersalju.(1). Suhu dan kelembapan tinggi (85℃/85%RH) turun hingga -4℃ sebelum 25℃, kelembapan harus dikontrol pada 85%+5% RH. Tujuannya adalah untuk mensimulasikan perubahan mendadak kelembapan tinggi sebelum turun salju.Sebelum turun salju, lingkungan akan menunjukkan kondisi kelembapan yang tinggi, dan saat suhu turun hingga 0℃, gas air di sekitar modul dan segel kotak sambungan akan membeku. Saat gas air membeku, volumenya akan mengembang hingga 1,1 kali dari volume aslinya, dan metode penghancuran ekspansi es setelah gas air menembus celah material melalui gas air untuk mencapai tujuan pengujian ini. Saat ini, hasil statistik pembekuan basah memiliki kerusakan tertinggi pada segel kotak sambungan, yang akan menyebabkan degumming kotak sambungan dan air, dan rasio kegagalan modul diperkirakan sebesar 7%.(2). Tujuan pemanasan dari suhu rendah (-40℃) dan kelembapan (50℃/85%RH) adalah untuk mensimulasikan kenaikan suhu di modul saat matahari terbit di iklim bersalju. Meskipun lingkungan luar ruangan masih di bawah 0℃, modul surya akan menghasilkan listrik saat ada cahaya, dan karena salju masih ada di modul, efek titik panas akan terjadi di modul. Suhu di dalam modul juga akan mencapai 50 ° C.7. Uji panas basah (Damp heat) Uji IEC61215-10-13:Keterangan: Untuk menentukan kemampuan modul dalam menahan penetrasi kelembapan jangka panjang, menurut hasil pengujian BP Solar, 1000 jam tidaklah cukup. Kondisi aktual ditemukan bahwa waktu untuk membuat modul bermasalah memerlukan sedikitnya 1250 jam. Menurut persyaratan spesifikasi saat ini, proses uji panas basah tidak dinyalakan, tetapi tren masa depan juga dinyalakan (bias positif dan terbalik), karena dapat mempercepat penuaan dan kegagalan sel surya.Kondisi pengujian: 85℃/85%RH, waktu :1000 jam Cacat dapat ditemukan melalui uji basah dan termal: delaminasi SEL EVA (delaminasi, perubahan warna, pembentukan gelembung, atomisasi, Browning), menghitamnya jalur sambungan, korosi TCO, korosi titik, perubahan warna kuning lapisan tipis, degumming kotak sambungan
Prinsip Kerja Kamar Uji Pelapukan UVRuang uji pelapukan UV adalah sejenis peralatan eksperimen yang secara khusus digunakan untuk menguji ketahanan dan stabilitas bahan dan produk di bawah radiasi ultraviolet. Prinsip kerjanya berkisar pada peniruan kondisi radiasi UV di lingkungan alami untuk menilai bagaimana bahan berperilaku saat terpapar sinar matahari dalam jangka waktu lama. Ruangan ini dilengkapi dengan serangkaian sumber cahaya ultraviolet berintensitas tinggi yang secara efektif memancarkan cahaya ultraviolet dalam rentang panjang gelombang tertentu, meniru pita UV-A dan UV-B dari sinar matahari alami.Selama pengujian, sampel ditempatkan di ruang uji, dan radiasi ultraviolet akan menyebabkan perubahan pada struktur kimia permukaan material, seperti memudarnya warna, berkurangnya kekuatan, dan meningkatnya kerapuhan. Pada saat yang sama, ruang uji juga dapat dikombinasikan dengan faktor lingkungan seperti suhu dan kelembapan untuk evaluasi sampel yang lebih komprehensif. Misalnya, sistem kontrol kelembapan di laboratorium dapat mensimulasikan efek hujan dan kelembapan, sementara peralatan kontrol suhu dapat mereproduksi kondisi panas atau dingin yang ekstrem.Dengan memaparkan sampel ke beberapa putaran radiasi ultraviolet pada periode waktu yang berbeda, para peneliti dapat mengumpulkan sejumlah besar data eksperimen dan menganalisis ketahanan penuaan dan masa pakai sampel secara mendalam. Data ini memainkan peran penting dalam pengembangan material, pengendalian kualitas produk, dan analisis permintaan pasar. Selain itu, penggunaan ruang uji pelapukan UV juga membantu perusahaan mengantisipasi kemungkinan masalah kinerja sebelum peluncuran produk baru, sehingga dapat melakukan penyesuaian dan perbaikan tepat waktu.Pengujian semacam itu tidak hanya berlaku untuk plastik, pelapis, serat, dan material lainnya, tetapi juga digunakan secara luas dalam berbagai industri seperti otomotif, bidang konstruksi, dan bahkan produk elektronik. Dengan mempelajari kinerja produk dalam berbagai kondisi iklim, perusahaan dapat meningkatkan daya saing produk mereka di pasar, tetapi juga berkontribusi terhadap masalah lingkungan, karena produk dengan ketahanan cuaca yang baik biasanya berarti siklus hidup yang lebih panjang dan lebih sedikit limbah material.Singkatnya, ruang uji pelapukan UV memainkan peran penting dalam ilmu material dan pengembangan produk, tidak hanya memungkinkan pengembang untuk lebih memahami sifat material, tetapi juga memungkinkan konsumen untuk menghadirkan produk yang lebih berkualitas dan lebih tahan lama. Dalam pengembangan ilmu pengetahuan dan teknologi di masa mendatang, dengan kemajuan teknologi uji pelapukan ultraviolet yang berkelanjutan, kita mungkin dapat menyaksikan lahirnya lebih banyak material dan produk baru, yang menambah lebih banyak kemudahan dan keindahan dalam kehidupan kita.
Definisi dan Karakteristik Ruang Uji Pelapukan UV Ruang uji pelapukan UV merupakan peralatan profesional yang digunakan untuk mensimulasikan dan mengevaluasi ketahanan material terhadap radiasi ultraviolet dan kondisi iklim yang sesuai. Fungsi utamanya adalah untuk mensimulasikan efek sinar ultraviolet pada material di lingkungan alami melalui radiasi ultraviolet, perubahan suhu dan kelembapan yang dikontrol secara artifisial, sehingga dapat melakukan pengujian yang komprehensif dan sistematis terhadap daya tahan, stabilitas warna, dan sifat fisik material. Dalam beberapa tahun terakhir, seiring dengan perkembangan ilmu pengetahuan dan teknologi serta peningkatan persyaratan kinerja material secara terus-menerus, penerapan ruang uji pelapukan UV telah menjadi semakin luas, meliputi plastik, pelapis, karet, tekstil, dan bidang lainnya. Karakteristik peralatan terutama tercermin dalam efisiensi dan akurasinya yang tinggi. Pertama-tama, ruang uji pelapukan UV menggunakan lampu ultraviolet intensitas tinggi, yang memancarkan spektrum ultraviolet yang mendekati sinar matahari, yang dapat secara akurat mensimulasikan kondisi pencahayaan di lingkungan nyata. Kedua, ia memiliki sistem pemantauan dan kontrol waktu nyata, yang dapat secara tepat mengatur suhu internal, kelembaban, dan intensitas UV untuk memastikan stabilitas proses pengujian dan keandalan hasil. Selain itu, material internal dan desain struktural ruang uji juga sangat penting, yang biasanya menggunakan material tahan korosi dan tahan oksidasi untuk memperpanjang masa pakai peralatan dan meningkatkan akurasi pengujian. Selain itu, aplikasi ruang uji pelapukan UV tidak hanya terbatas pada deteksi penuaan material, tetapi juga dapat memprediksi dan meningkatkan kinerja material, membuat produsen lebih berwawasan ke depan dan ilmiah dalam pemilihan material dan desain produk. Penggunaan peralatan ini sebagian besar mengurangi masalah kualitas yang disebabkan oleh kurangnya ketahanan cuaca produk dan meningkatkan daya saing pasar produk. Oleh karena itu, dalam penelitian dan pengembangan material, ruang uji pelapukan UV dapat digambarkan sebagai alat bantu yang sangat diperlukan, yang membantu perusahaan dengan cepat mendeteksi dan mengoptimalkan sifat material untuk memenuhi kebutuhan pasar yang terus berubah. Singkatnya, ruang uji pelapukan UV, sebagai teknologi pengujian yang canggih, memimpin kemajuan dan inovasi di bidang ilmu material. Dengan meningkatnya permintaan akan material yang ramah lingkungan dan produk yang tahan lama, pentingnya peralatan tersebut akan semakin menonjol. Sifatnya yang ilmiah, andal, dan efisien akan membantu semua lapisan masyarakat untuk mengembangkan lebih banyak produk berkualitas tinggi guna menghadapi tantangan yang lebih tidak diketahui di masa mendatang.
Standar Uji Suhu Tinggi dan Rendah Bahan Plastik PC1. Uji suhu tinggi Setelah ditempatkan pada suhu 80±2℃ selama 4 jam dan pada suhu normal selama 2 jam, dimensi, resistansi isolasi, resistansi tegangan, fungsi tombol, dan resistansi loop memenuhi persyaratan normal, dan tidak ada fenomena abnormal seperti deformasi, lengkungan, dan pengelupasan pada tampilan. Titik cembung tombol runtuh pada suhu tinggi dan gaya tekan menjadi lebih kecil tanpa penilaian.2. Uji suhu rendahSetelah ditempatkan pada suhu -30±2℃ selama 4 jam dan pada suhu normal selama 2 jam, dimensi, resistansi isolasi, resistansi tegangan, fungsi kunci, dan resistansi loop memenuhi persyaratan normal, dan tidak ada fenomena abnormal seperti deformasi, lengkungan, dan pengelupasan pada tampilan.3. Uji siklus suhuMasukkan ke dalam lingkungan 70±2℃ selama 30 menit, keluarkan pada suhu ruangan selama 5 menit; Biarkan di lingkungan -20±2℃ selama 30 menit, keluarkan dan biarkan pada suhu ruangan selama 5 menit. Setelah 5 siklus tersebut, dimensi, resistansi isolasi, resistansi tegangan, fungsi kunci, resistansi sirkuit memenuhi persyaratan normal, dan tidak ada deformasi, lengkungan, pengelupasan, dan fenomena abnormal lainnya. Titik cembung kunci runtuh pada suhu tinggi dan gaya tekan menjadi lebih kecil tanpa penilaian.4. Tahan panasSetelah ditempatkan di lingkungan dengan suhu 40±2℃ dan kelembaban relatif 93±2%rh selama 48 jam, dimensi, resistansi isolasi, resistansi tegangan, fungsi tombol, dan resistansi loop memenuhi persyaratan normal, dan tampilannya tidak berubah bentuk, melengkung, atau terkelupas. Titik cembung tombol akan runtuh pada suhu tinggi dan gaya tekan akan menjadi lebih kecil tanpa penilaian.Nilai standar nasional untuk pengujian plastik:Gb1033-86 Metode pengujian kepadatan plastik dan kepadatan relatifGbl636-79 Metode pengujian kepadatan nyata plastik cetakanGB/ T7155.1-87 Penentuan kepadatan pipa dan alat kelengkapan pipa termoplastik bagian: penentuan kepadatan referensi pipa dan alat kelengkapan pipa polietilenGB/ T7155.2-87 Pipa dan fitting termoplastik -- Penentuan kepadatan -- Bagian L: Penentuan kepadatan pipa dan fitting polipropilenaGB/T1039-92 Aturan umum untuk menguji sifat mekanik plastikGB/ T14234-93 Kekasaran permukaan bagian plastikMetode uji kilap cermin plastik Gb8807-88Metode pengujian sifat tarik film plastik GBL3022-9LGB/ TL040-92 Metode pengujian sifat tarik plastikMetode pengujian sifat tarik pipa termoplastik GB/T8804.1-88 pipa polivinil kloridaGB/ T8804.2-88 Metode pengujian sifat tarik pipa termoplastik Pipa polietilenMetode uji perpanjangan suhu rendah plastik Hg2-163-65GB/ T5471-85 Metode untuk menyiapkan spesimen cetakan thermosettingMetode persiapan sampel termoplastik HG/T2-1122-77GB/ T9352-88 persiapan sampel kompresi termoplastikwww.oven.cclabcompanion.cn Lab Companion Tiongkoklabcompanion.com.cn Lab Companion Tiongkoklab-companion.com Lab Companion labcompanion.com.hk Lab Companion Hong Konglabcompanion.hk Lab Companion Hong Konglabcompanion.de Lab Companion Jerman labcompanion.it Lab Companion Italia labcompanion.es Lab Companion Spanyol labcompanion.com.mx Lab Companion Meksiko labcompanion.uk Lab Companion Inggris Rayalabcompanion.ru Lab Companion Rusia labcompanion.jp Lab Companion Jepang labcompanion.in Lab Companion India labcompanion.fr Lab Companion Prancislabcompanion.kr Lab Companion Korea
Spesifikasi Uji Lampu Jalan LED Lampu jalan LED saat ini merupakan salah satu metode implementasi utama untuk menghemat energi dan mengurangi karbon, semua negara di dunia telah berupaya keras untuk mengganti lampu jalan tradisional asli dengan lampu jalan LED, dan jalan baru secara langsung dibatasi pada penggunaan lampu jalan LED untuk menghemat energi. Saat ini, pasar lampu jalan LED dunia sekitar 80 juta, sumber cahaya lampu LED baik itu panas, masa pakai, spektrum keluaran, iluminasi keluaran, karakteristik material, berbeda dari lampu merkuri tradisional atau lampu sodium bertekanan tinggi. Kondisi pengujian dan metode pengujian lampu jalan LED berbeda dari lampu tradisional. Lab Companion mengumpulkan metode uji keandalan yang terkait dengan lampu jalan LED saat ini dan memberi Anda referensi untuk membantu Anda memahami pengujian terkait tentang LED.Singkatan spesifikasi pengujian lampu jalan LED:Spesifikasi standar pengujian lampu jalan LED, spesifikasi teknis metode pengujian lampu jalan LED, standar dan metode pengujian lampu jalan LED, spesifikasi teknis produk komponen perangkat pencahayaan semikonduktor teknik lanskap malam, spesifikasi teknis penerimaan kualitas konstruksi teknik lanskap malam pencahayaan semikonduktor, peraturan keselamatan catu daya LED IEC 61347Kondisi spesifikasi pengujian lampu jalan LED:Standar desain penerangan jalan perkotaan CJJ45-2006, standar keselamatan lampu UL1598, standar keselamatan kabel dan kawat UL48, standar keselamatan dioda pemancar cahaya UL8750, uji ketahanan lampu besar dioda pemancar cahaya CNS13089 - uji pra-pembakaran - luar ruangan, uji kedap air: IP65, Standar Amerika untuk lampu LED, EN 60598-1, EN 60598-2 uji lampu jalanProyek uji sertifikasi kualitas lampu LED besar:Siklus suhu, siklus suhu dan kelembaban, pelestarian suhu tinggi, ketahanan kelembaban, getaran, guncangan, daya berkelanjutan, semprotan air garam, akselerasi, ketahanan panas solder, adhesi solder, kekuatan terminal, penurunan alami, uji debuKondisi uji sertifikasi kualitas lampu LED besar:Siklus suhu: 125℃(30 menit)←RT(5 menit)→-65℃(30 menit)/5 siklusPenentuan kegagalan lampu jalan LED (tampilan luar ruangan dioda pemancar cahaya dengan lampu besar):a. Cahaya sumbu lebih rendah dari rating residual 50%b. Tegangan maju lebih besar dari 20% dari nilai pengenalc. Arus balik lebih besar dari 100% dari nilai terukurd. Panjang gelombang setengah tinggi dan sudut daya setengah cahaya melebihi nilai maksimum yang dibatasi atau nilai minimum yang dibatasi memenuhi kondisi di atas, dan menentukan kegagalan lampu jalan LEDCatatan: Efisiensi cahaya lampu jalan LED disarankan minimal 45 lm/W atau lebih (efisiensi cahaya sumber cahaya LED harus sekitar 70 ~ 80 lm/W)Penyimpanan suhu tinggi: suhu penyimpanan maksimum 1000 jam [level khusus 3000 jam]Tahan kelembaban: 60℃/90%RH/1000 jam [tingkat karakteristik 2000 jam]/menerapkan biasSemprotan air garam: 35℃/konsentrasi 5%/18 jam [tingkat khusus 24 jam]Daya kontinu: arus maju maksimum 1000 jamJatuh alami: Tinggi jatuh 75cm/ jatuh 3 kali/bahan jatuh kayu maple halusUji debu: uji suhu cincin 50℃ selama 360 jam terus menerusGetaran: 100 ~ 2000Hz, 196m/s^2, 48 jamDampak: Kelas F [Akselerasi 14700m/s^2, amplitudo pulsa 0,5ms, enam arah, tiga kali di setiap arah]Percepatan yang sama: Percepatan diterapkan ke semua arah (kelas D: 196000 m/s^2) selama 1 menitTahan panas solder: 260℃/10 detik /1 kaliAdhesi solder: 250℃/5 detikKekuatan terminalProyek uji kualitas lampu LED batch besar:Kekuatan terminal, ketahanan panas solder, siklus suhu, ketahanan kelembaban, daya berkelanjutan, penyimpanan suhu tinggiKondisi pengujian kualitas lampu LED batch besar:Tahan kelembaban: 60℃/90%RH/168 jam (tanpa kegagalan)/500 jam (satu kegagalan diperbolehkan) [nomor pengujian 10 / terapkan bias]Daya terus menerus: arus maju maksimum /168 jam (tanpa kegagalan)/500 jam (satu kegagalan diperbolehkan)[nomor pengujian 10]Penyimpanan suhu tinggi: suhu penyimpanan maksimum /168 jam (tanpa kegagalan) 500 jam (satu kegagalan diperbolehkan) [nomor pengujian 10]Tahan panas solder: 260℃/10 detik /1 kaliAdhesi solder: 250℃/5 detikProyek uji kualitas reguler lampu LED besar:Getaran, guncangan, akselerasi, tahan lembab, daya berkelanjutan, pelestarian suhu tinggiKondisi uji kualitas reguler untuk lampu LED besar:Tahan kelembaban: 60℃/90%RH/1000 jamDaya kontinu: arus maju maksimum / 1000 jamPenyimpanan suhu tinggi: Suhu penyimpanan maksimum /1000 jamGetaran: 100 ~ 2000Hz, 196m/s^2, 48 jamDampak: Kelas F [Akselerasi 14700m/s^2, amplitudo pulsa 0,5ms, enam arah, tiga kali di setiap arah]Percepatan yang sama: Percepatan diterapkan ke semua arah (kelas D: 196000 m/s^2) selama 1 menitProyek uji penyaringan lampu LED besar:Uji akselerasi, siklus suhu, pengawetan suhu tinggi, uji pra-pembakaranKondisi pengujian penyaringan cahaya besar LED:Uji percepatan konstan: Terapkan percepatan (tingkat D: 196000 m/s^2) di setiap arah selama 1 menitSiklus suhu: 85℃(30 menit)←RT(5 menit)→-40℃(30 menit)/5 siklusUji pra-penembakan: suhu (suhu pengenal maksimum)/arus (arus maju pengenal maksimum) 96 jamPenyimpanan suhu tinggi: 85℃/72 ~ 1000 jamUji umur lampu LED:Lebih dari 1000 jam Uji Kehidupan (Uji Kehidupan), redaman cahaya < 3% [cahaya layu]Lebih dari 15.000 jam Uji Kehidupan (Uji Kehidupan), redaman cahaya < 8%
Spesifikasi Uji Layar LCD Layar LCD, nama lengkapnya adalah Liquid Crystal Display, adalah teknologi layar datar. Teknologi ini terutama menggunakan material kristal cair untuk mengendalikan transmisi dan pemblokiran cahaya, sehingga dapat menampilkan gambar. Struktur LCD biasanya mencakup dua substrat kaca paralel, dengan kotak kristal cair di tengahnya, dan cahaya terpolarisasi setiap piksel dikendalikan oleh arah putaran molekul kristal cair melalui tegangan, sehingga dapat mencapai tujuan pencitraan. Layar LCD banyak digunakan di TV, monitor komputer, ponsel, komputer tablet, dan perangkat lainnya. Saat ini, perangkat layar kristal cair yang umum adalah Twisted Nematic (TN), Super Twisted Nematic (Super Twisted Nematic), STN), DSTN (Double layer TN) dan Thin Film Transistors (TFT). Tiga jenis pertama memiliki prinsip dasar pembuatan yang sama, yaitu menjadi kristal cair matriks pasif, sedangkan TFT lebih kompleks, karena retensi memori, dan disebut kristal cair matriks aktif. Karena layar kristal cair mempunyai kelebihan yaitu ruang yang kecil, ketebalan panel yang tipis, bobot yang ringan, tampilan sudut siku-siku datar, konsumsi daya yang rendah, tidak ada radiasi elektromagnetik, tidak ada radiasi termal, maka secara bertahap menggantikan monitor tabung gambar CRT tradisional.Layar LCD pada dasarnya memiliki empat mode tampilan: refleksi, refleksi transmisi konversi, proyeksi, transmisi.(1) Jenis refleksi layar kristal cair itu sendiri tidak memancarkan cahaya, melalui sumber cahaya di ruang ke panel LCD, dan kemudian oleh pelat reflektifnya akan memantulkan cahaya ke mata orang;(2) Jenis konversi transmisi refleksi dapat digunakan sebagai jenis refleksi ketika sumber cahaya di ruang mencukupi, dan sumber cahaya di ruang digunakan sebagai penerangan ketika cahaya tidak mencukupi;(3) Jenis proyeksi menggunakan prinsip pemutaran film serupa, penggunaan departemen cahaya yang diproyeksikan untuk memproyeksikan gambar yang ditampilkan oleh tampilan kristal cair ke layar yang lebih besar di jarak jauh;(4) Tampilan kristal cair jenis transmisi sepenuhnya menggunakan sumber cahaya tersembunyi sebagai penerangan.Kondisi Uji yang Relevan: BarangSuhuWaktuLainnyaPenyimpanan suhu tinggi60℃, kelembaban 30%120 jamCatatan 1 Penyimpanan suhu rendah-20℃120 jamCatatan 1 Suhu tinggi dan kelembaban tinggi40℃, kelembaban 95% (non-invasif)120 jamCatatan 1Operasi suhu tinggi40℃,30%RH.120 jamTegangan standarKejutan suhu-20℃(30 menit)↓25℃(10 menit)↓20℃(30menit)↓25℃ (10 menit)10 siklusCatatan 1Getaran mekanis——Frekuensi: 5-500hz, akselerasi: 1,0g, amplitudo: 1,0mm, durasi: 15 menit, dua kali dalam arah X, Y, Z.BarangSuhuWaktuLainnyaCatatan 1: Modul yang diuji harus ditempatkan pada suhu normal (15 ~ 35℃,45 ~ 65%RH) selama satu jam sebelum pengujian
Spesifikasi Uji Simulasi Radiasi Matahari di Tanah Tujuan dari metode pengujian ini adalah untuk menentukan efek fisik dan kimia dari komponen dan peralatan yang terkena radiasi matahari di permukaan bumi (misalnya Karakteristik utama dari lingkungan yang disimulasikan dalam percobaan ini adalah distribusi energi spektral matahari dan intensitas energi yang diterima di bawah kendali suhu dan kelembaban di lingkungan pengujian. Ada tiga prosedur dalam mode pengujian (Prosedur A: evaluasi efek termal, prosedur B: evaluasi efek degradasi, prosedur C: evaluasi efek fotokimia).Produk yang berlaku:Produk elektronik yang akan digunakan di luar rumah dalam jangka waktu lama, seperti: laptop, ponsel, MP3&MP4, GPS, elektronik otomotif, kamera digital, PDA, laptop murah, laptop yang mudah dibawa, kamera video, headphone BluebudPersyaratan pengujian:1. Distribusi energi spektral harus memenuhi persyaratan spesifikasi2. Pencahayaan: 1.120KW/m^2 (±10%)=[300-400um, 63 w/m2][Total radiasi global permukaan bumi dari matahari dan langit vertikal adalah 1.120KW/m^2]3. Suhu dan kelembaban 40℃(±2)/93%(±3)RH4. Pengujian ini perlu mengontrol lingkungan kelembaban5. Selama penyinaran, suhu di dalam kotak naik ke suhu yang ditentukan (40℃, 55℃) secara linier.6. Suhu di dalam kotak harus mulai naik 2 jam sebelum penyinaran7. Suhu di ruang gelap harus diturunkan secara linear dan dipertahankan pada 25℃8. Kesalahan suhu: ±2℃9. Titik pengukuran suhu di dalam kotak diambil dari jarak uji 1m dari spesimen atau setengah jarak dinding kotak (yang lebih kecil)Distribusi energi spektral dan rentang kesalahan toleransi lampu Xenon (sesuai persyaratan Komisi Penerangan Internasional CIE)Mesin uji cuaca lampu xenon tidak menyala, tetapi spektrum yang dikeluarkan oleh lampu xenonnya harus sesuai dengan persyaratan Komisi Penerangan Internasional CIE. Oleh karena itu, produsen peralatan mesin uji cuaca harus memiliki peralatan (spektrometer) dan kemampuan teknis untuk memverifikasi spektrum lampu xenon (memberikan laporan verifikasi lampu xenon).Deskripsi evaluasi prosedur pengujian:Menurut IEC68-2-5&IEC-68-2-9, terdapat tiga jenis metode pengujian untuk uji ketahanan cahaya, yang dapat dibagi menjadi program A: efek termal, B: efek degradasi, C: fotokimia. Di antara ketiga metode ini, prosedur A merupakan metode pengujian yang paling berat, yang akan dijelaskan secara terperinci dalam artikel berikut.Tiga prosedur pengujian: Prosedur A: efek termal (kondisi alam paling parah), B: efek degradasi (22,4KWh/m2 per hari), C: fotokimiaProgram A: Efek termalKondisi pengujian: 8 jam paparan, 16 jam kegelapan, total 24 jam per siklus, tiga siklus diperlukan, dan total paparan setiap siklus adalah 8,96KWh/m2Tindakan pencegahan pengujian Prosedur A:Petunjuk: Dalam proses pengujian program A, lampu xenon tidak langsung dinyalakan di awal pengujian, sesuai dengan persyaratan kode, lampu harus dinyalakan setelah 2 jam pengujian, ditutup pada 10 jam, dan total waktu penyinaran satu siklus adalah 8 jam. Selama proses penyalaan, suhu dalam tungku naik secara linear dari 25℃ menjadi 40℃ (memuaskan sebagian besar lingkungan di dunia) atau 55℃ (memuaskan semua lingkungan di dunia), dan menurun secara linear pada 10 jam menjadi 25℃ selama 4 jam, dengan kemiringan linear (RAMP) 10 jam.Prosedur pengujian B: Efek degradasiKondisi pengujian: Suhu dan kelembaban dalam empat jam pertama pengujian adalah (93%), penyinaran selama 20 jam, kegelapan selama 4 jam, total 24 jam per siklus Total paparan untuk setiap siklus adalah 22,4KWh/m2 siklus: 3(3 hari: umum digunakan), 10(10 hari), 56(56 hari)Tindakan pencegahan pengujian Prosedur B:Petunjuk: Prosedur pengujian B adalah satu-satunya kondisi pengujian untuk pengendalian kelembapan selama pengujian ketahanan cahaya dalam spesifikasi IEC68-2-5. Spesifikasi tersebut mengharuskan kondisi suhu dan kelembapan berada dalam lingkungan kelembapan (40±2℃/93±3%) dalam waktu empat jam sejak dimulainya pengujian [deskripsi tambahan dalam IEC68-2-9], yang harus diperhatikan saat melakukan pengujian. Pada awal pengujian program B, suhu dinaikkan dari kemiringan linier 25℃ (RAMP: 2 jam) menjadi 40℃ atau 55℃, dipertahankan selama 18 jam, dan kemudian pendinginan linier (RAMP: 2 jam) dikembalikan ke 25℃ selama 2 jam untuk menyelesaikan siklus eksperimen. Keterangan: IEC68-2-9 = Pedoman Pengujian Radiasi MatahariProsedur Uji C: Fotokimia (Iradiasi Kontinu)Kondisi pengujian: 40℃ atau 55℃, penyinaran terus menerus (tergantung waktu yang dibutuhkan)Tindakan pencegahan pengujian Prosedur C:Catatan: Setelah kenaikan suhu linear (RAMP: 2 jam) dari 25℃ ke 40℃ atau 55℃, uji penyinaran berkelanjutan dilakukan pada suhu tetap sebelum akhir pengujian. Waktu penyinaran ditentukan berdasarkan karakteristik produk yang akan diuji dalam pengujian, yang tidak disebutkan secara jelas dalam spesifikasi.
Spesifikasi Uji Bellcore GR78-COREBellcore GR78-CORE merupakan salah satu spesifikasi yang digunakan dalam pengukuran resistansi isolasi permukaan awal (seperti IPC-650). Tindakan pencegahan yang relevan dalam pengujian ini disusun sebagai referensi bagi personel yang perlu melakukan pengujian ini, dan juga dapat memberikan pemahaman awal tentang spesifikasi ini.Tujuan pengujian:Pengujian resistensi isolasi permukaan1. Ruang uji suhu dan kelembaban konstan: kondisi pengujian minimum adalah 35 ° C ± 2 ° C / 85% RH, 85 ± 2 ° C / 85% RH2. Sistem pengukuran migrasi ion: Memungkinkan resistansi isolasi rangkaian uji (pola) diukur dalam kondisi ini, catu daya akan mampu menyediakan 10 Vdc / 100μA.Prosedur pengujian:a. Objek yang akan diukur diuji setelah 24 jam pada kondisi 23℃(73.4℉)/50%RH.b. Letakkan pola Uji yang terbatas pada rak yang sesuai dan jaga jarak antar rangkaian uji minimal 0,5 inci, jaga aliran udara dan rak di dalam tungku hingga akhir percobaan.c. Letakkan rak di bagian tengah mesin suhu dan kelembapan konstan, sejajarkan dan sejajarkan papan uji dengan aliran udara di dalam ruangan, dan arahkan kabel ke bagian luar ruangan, sehingga kabel berada jauh dari sirkuit uji.d. Tutup pintu tungku dan atur kondisinya ke 35 ±2°C, minimal 85%RH dan biarkan tungku menghabiskan beberapa jam untuk menstabilkannya.e. Setelah 4 hari, resistansi isolasi akan diukur dan nilai terukur akan dicatat secara berkala antara 1 dan 2,2 dan 3,3 dan 4, 4 dan 5 menggunakan tegangan terapan 45 ~ 100 Vdc. Di bawah kondisi pengujian, pengujian mengirimkan tegangan terukur ke sirkuit setelah 1 menit. 2 dan 4 secara berkala pada potensial yang sama. Dan 5 secara berkala pada potensial yang berlawanan.f. Ketentuan ini hanya berlaku untuk bahan yang transparan atau tembus cahaya, seperti masker solder dan pelapis konformal.g. Untuk papan sirkuit cetak multilayer yang diperlukan untuk pengujian resistansi isolasi, satu-satunya prosedur normal akan digunakan untuk produk rangkaian pengujian resistansi isolasi. Prosedur pembersihan tambahan dilarang.Metode penentuan kesesuaian:1. Setelah uji migrasi elektron selesai, sampel uji dikeluarkan dari tungku uji, diterangi dari belakang dan diuji pada pembesaran 10x, dan tidak akan ditemukan pengurangan fenomena migrasi elektron (pertumbuhan filamen) lebih dari 20% di antara konduktor.2. Perekat tidak akan digunakan sebagai dasar penerbitan ulang saat menentukan kepatuhan terhadap metode pengujian 2.6.11 IPC-TM-650[8] untuk memeriksa tampilan dan permukaan item demi item.Alasan mengapa resistansi isolasi tidak memenuhi persyaratan:1. Kontaminan mengelas sel seperti kawat pada permukaan isolasi substrat, atau dijatuhkan oleh air tungku uji (ruang)2. Pola terukir tidak lengkap akan mengurangi jarak isolasi antara konduktor lebih dari persyaratan desain yang diizinkan3. Menggesek, merusak, atau merusak isolasi antar konduktor secara signifikan
Spesifikasi Sertifikasi Uji Stres Komponen Pasif AEC-Q200 untuk Industri Otomotif Dalam beberapa tahun terakhir, dengan kemajuan aplikasi dalam kendaraan multifungsi, dan dalam proses mempopulerkan kendaraan hibrida dan kendaraan listrik, penggunaan baru yang dipimpin oleh fungsi pemantauan daya juga berkembang, miniaturisasi suku cadang kendaraan dan persyaratan keandalan yang tinggi dalam kondisi lingkungan suhu tinggi (-40 ~ +125℃, -55℃ ~ +175℃) meningkat. Mobil terdiri dari banyak bagian. Meskipun bagian-bagian ini besar dan kecil, mereka terkait erat dengan keselamatan hidup mengemudi mobil, sehingga setiap bagian diperlukan untuk mencapai kualitas dan keandalan tertinggi, bahkan keadaan ideal tanpa cacat. Dalam industri otomotif, pentingnya kontrol kualitas suku cadang mobil sering kali lebih dari fungsionalitas suku cadang, yang berbeda dari kebutuhan elektronik konsumen untuk mata pencaharian masyarakat umum, dengan kata lain, untuk suku cadang mobil, kekuatan pendorong produk yang paling penting seringkali bukan [teknologi terbaru], tetapi [keselamatan kualitas]. Untuk mencapai peningkatan persyaratan kualitas, perlu mengandalkan prosedur kontrol yang ketat untuk memeriksa, industri otomotif saat ini untuk kualifikasi suku cadang dan standar sistem kualitas adalah AEC (Komite Elektronik Otomotif). Suku cadang aktif dirancang untuk standar [AEC-Q100]. Komponen pasif dirancang untuk [AEC-Q200]. Ini mengatur kualitas dan keandalan produk yang harus dicapai untuk suku cadang pasif.Klasifikasi komponen pasif untuk aplikasi otomotif:Komponen elektronik kelas otomotif (sesuai dengan AEC-Q200), komponen elektronik komersial, komponen transmisi daya, komponen kontrol keselamatan, komponen kenyamanan, komponen komunikasi, komponen audioRingkasan komponen menurut standar AEC-Q200:Osilator kuarsa: Rentang aplikasi [sistem pemantauan tekanan ban (TPMS), navigasi, rem anti-lock (ABS), kantung udara, dan sensor jarak Multimedia dalam kendaraan, sistem hiburan dalam kendaraan, lensa kamera cadangan]Resistor chip film tebal otomotif: Aplikasi [sistem pemanas dan pendingin otomotif, AC, sistem infotainment, navigasi otomatis, pencahayaan, perangkat kendali jarak jauh pintu dan jendela]Varistor oksida logam sandwich otomotif: Aplikasi [Perlindungan lonjakan komponen motor, penyerapan lonjakan komponen, perlindungan tegangan lebih semikonduktor]Kapasitor tantalum chip cetak padat pemasangan permukaan suhu rendah dan tinggi: Aplikasi [sensor kualitas bahan bakar, transmisi, katup gas, sistem kontrol penggerak]Resistansi: Resistor SMD, resistor film, termistor, varistor, resistansi vulkanisasi otomotif, susunan resistansi wafer film presisi otomotif, resistansi variabelKapasitor: kapasitor SMD, kapasitor keramik, kapasitor elektrolit aluminium, kapasitor film, kapasitor variabelInduktansi: Induktansi yang diperkuat, induktorLainnya: substrat pendingin keramik alumina film tipis LED, komponen ultrasonik, SMD proteksi arus lebih, SMD proteksi suhu lebih, resonator keramik, komponen proteksi elektronik keramik semikonduktor PolyDiode otomotif, chip jaringan, transformator, komponen jaringan, penekan interferensi EMI, filter interferensi EMI, sekering pemulihan otomatisTingkat uji stres perangkat pasif dan kisaran suhu minimum serta kasus aplikasi tipikal: KelasKisaran suhuJenis perangkat pasifKasus aplikasi yang umum MinimumMaksimum 0-50 derajat celcius150℃Resistor keramik inti datar, kapasitor keramik X8RUntuk semua mobil1-40 °C125 °CKapasitor jaringan, resistor, induktor, transformator, termistor, resonator, osilator kuarsa, resistor yang dapat disesuaikan, kapasitor keramik, kapasitor tantalumUntuk sebagian besar mesin2-40 derajat celcius105℃Kapasitor elektrolit aluminiumTitik suhu tinggi kokpit3-40 derajat celcius85℃Kapasitor tipis, ferit, filter low-pass jaringan, resistor jaringan, kapasitor yang dapat disesuaikanSebagian besar area kokpit40 derajat celcius70 °C Non-otomotifCatatan: Sertifikasi untuk aplikasi di lingkungan dengan mutu lebih tinggi: Mutu suhu harus memiliki masa pakai produk terburuk dan desain aplikasi, yaitu sedikitnya satu batch dari setiap pengujian harus divalidasi untuk aplikasi di lingkungan dengan mutu lebih tinggi.Jumlah tes sertifikasi yang diperlukan:Penyimpanan suhu tinggi, masa kerja suhu tinggi, siklus suhu, tahan kelembaban, kelembaban tinggi: 77 guncangan termal: 30Jumlah uji sertifikasi Catatan:Ini adalah pengujian yang merusak dan komponen tidak dapat digunakan kembali untuk pengujian sertifikasi atau produksi lainnya
JEDEC, sebuah organisasi standardisasi dalam industri semikonduktor, mengembangkan standar industri dalam elektronik solid state (semikonduktor, memori), yang telah berdiri selama lebih dari 50 tahun, merupakan organisasi global. Standar yang telah dirumuskannya telah diadopsi dan diadopsi oleh banyak industri. Data teknisnya terbuka dan bebas biaya, hanya beberapa data yang perlu dikenai biaya. Jadi, Anda dapat mengunjungi situs web resmi untuk mendaftar dan mengunduh, kontennya berisi definisi istilah profesional, spesifikasi produk, metode pengujian, persyaratan uji keandalan... Mencakup berbagai topik.JEP122G-2011 Mekanisme kegagalan dan model komponen semikonduktorUji masa pakai yang dipercepat digunakan untuk mengidentifikasi potensi penyebab kegagalan semikonduktor terlebih dahulu dan memperkirakan kemungkinan tingkat kegagalan. Rumus energi aktivasi dan faktor percepatan yang relevan disediakan di bagian ini untuk estimasi dan statistik tingkat kegagalan dalam uji masa pakai yang dipercepat.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendah, ruang uji kejut panas dan dingin, ruang uji kehidupan yang sangat dipercepat, sistem pengukuran resistansi isolasi permukaan SIRJEP150.01-2013 Mekanisme kegagalan uji tegangan yang terkait dengan perakitan komponen pemasangan permukaan solid stateGBA dan LCC dipasang pada PCB, menggunakan serangkaian uji keandalan yang dipercepat yang lebih umum digunakan untuk mengevaluasi pembuangan panas dari proses produksi dan produk, untuk mengidentifikasi mekanisme kegagalan potensial, atau alasan apa pun yang dapat menyebabkan kegagalan karena kesalahan.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendah, ruang uji kejut panas dan dingin, ruang uji kehidupan yang sangat dipercepatJESD22-A100E-2020 Siklus suhu dan kelembaban bias permukaan kondensasi uji kehidupanUji keandalan perangkat solid state non-tertutup di lingkungan lembap melalui siklus suhu + kelembapan + bias arus. Spesifikasi pengujian ini mengadopsi metode [siklus suhu + kelembapan + bias arus] untuk mempercepat penetrasi molekul air melalui bahan pelindung eksternal (sealant) dan lapisan pelindung antarmuka antara konduktor logam. Pengujian semacam itu akan menyebabkan kondensasi pada permukaan. Ini dapat digunakan untuk mengonfirmasi fenomena korosi dan migrasi pada permukaan produk yang akan diuji.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendahJESD22-A101D.01-2021 Uji bias suhu dan kelembaban kondisi stabilStandar ini mendefinisikan metode dan kondisi untuk melakukan uji umur suhu-kelembapan di bawah bias yang diterapkan untuk menilai keandalan perangkat solid-state yang dikemas tidak kedap udara (misalnya, perangkat IC tertutup) di lingkungan lembab.Kondisi suhu dan kelembapan yang tinggi digunakan untuk mempercepat penetrasi kelembapan melalui bahan pelindung eksternal (sealant atau segel) atau sepanjang antarmuka antara lapisan pelindung eksternal dan konduktor serta bagian tembus lainnya.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendahPaket IC JESD22-A102E-2015 uji PCT tak biasUntuk mengevaluasi integritas perangkat yang dikemas tidak kedap udara terhadap uap air dalam lingkungan uap air yang terkondensasi atau jenuh, sampel ditempatkan dalam lingkungan yang terkondensasi, berkelembaban tinggi di bawah tekanan tinggi untuk memungkinkan uap air masuk ke dalam kemasan, yang memperlihatkan kelemahan dalam kemasan, seperti delaminasi dan korosi lapisan metalisasi. Pengujian ini digunakan untuk mengevaluasi struktur kemasan baru atau pembaruan bahan dan desain dalam badan kemasan. Perlu dicatat bahwa akan ada beberapa mekanisme kegagalan internal atau eksternal dalam pengujian ini yang tidak sesuai dengan situasi aplikasi yang sebenarnya. Karena uap air yang diserap mengurangi suhu transisi kaca dari sebagian besar bahan polimer, mode kegagalan yang tidak nyata dapat terjadi ketika suhu lebih tinggi dari suhu transisi kaca.Peralatan yang direkomendasikan: Ruang uji kehidupan yang sangat dipercepatJESD22-A104F-2020 Siklus suhuUji siklus suhu (TCT) merupakan uji keandalan komponen IC yang mengalami suhu sangat tinggi dan suhu sangat rendah, konversi suhu bolak-balik di antara pengujian, komponen IC berulang kali terkena kondisi ini, setelah jumlah siklus yang ditentukan, proses ini diperlukan untuk menentukan laju perubahan suhunya (℃/menit), selain itu untuk mengonfirmasi apakah suhu secara efektif ditembus ke dalam produk uji.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji kejut termalJESD22-A105D-2020 Siklus daya dan suhuPengujian ini berlaku untuk komponen semikonduktor yang terpengaruh oleh suhu. Dalam prosesnya, catu daya uji perlu dihidupkan atau dimatikan dalam kondisi perbedaan suhu tinggi dan rendah yang ditentukan. Siklus suhu dan pengujian catu daya dilakukan untuk memastikan daya dukung komponen, dan tujuannya adalah untuk mensimulasikan situasi terburuk yang akan dihadapi dalam praktik.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji kejut termalJESD22-A106B.01-2016 Kejutan suhuUji kejut suhu ini dilakukan untuk mengetahui ketahanan dan dampak komponen semikonduktor terhadap paparan mendadak pada kondisi suhu tinggi dan rendah yang ekstrem. Laju perubahan suhu pada uji ini terlalu cepat untuk mensimulasikan penggunaan sebenarnya. Tujuannya adalah untuk memberikan tekanan yang lebih berat pada komponen semikonduktor, mempercepat kerusakan pada titik-titik rawannya, dan mengetahui potensi kerusakan yang mungkin terjadi.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji kejut termalJESD22-A110E-2015 Uji kehidupan HAST yang sangat dipercepat dengan biasMenurut spesifikasi JESD22-A110, THB dan BHAST digunakan untuk menguji komponen pada suhu dan kelembapan tinggi, dan proses pengujian perlu disesuaikan untuk mempercepat korosi komponen. Perbedaan antara BHAST dan THB adalah keduanya dapat secara efektif mempersingkat waktu pengujian yang diperlukan untuk pengujian THB asli.Peralatan yang direkomendasikan: Ruang uji kehidupan yang sangat dipercepatPerangkat pemasangan permukaan plastik JESD22A113I sebelum pengujian keandalanUntuk komponen SMD yang tidak tertutup, perlakuan awal dapat mensimulasikan masalah keandalan yang mungkin terjadi selama perakitan papan sirkuit karena kerusakan yang disebabkan oleh kelembapan kemasan, dan mengidentifikasi potensi cacat pada perakitan reflow SMD dan PCB melalui kondisi pengujian spesifikasi ini.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendah, ruang uji kejut panas dan dinginJESD22-A118B-2015 Uji umur akselerasi kecepatan tinggi yang tidak biasUntuk mengevaluasi ketahanan komponen kemasan yang tidak kedap udara terhadap kelembapan dalam kondisi yang tidak bias, konfirmasikan ketahanannya terhadap kelembapan, kekokohan, serta percepatan korosi dan penuaan, yang dapat digunakan sebagai pengujian yang mirip dengan JESD22-A101 tetapi pada suhu yang lebih tinggi. Pengujian ini merupakan pengujian masa pakai yang sangat dipercepat dengan menggunakan suhu non-kondensasi dan kondisi kelembapan. Pengujian ini harus dapat mengendalikan laju kenaikan dan pendinginan dalam panci presto dan kelembapan selama pendinginan.Peralatan yang direkomendasikan: Ruang uji kehidupan yang sangat dipercepatJESD22-A119A-2015 Uji masa penyimpanan suhu rendahJika tidak ada bias, dengan mensimulasikan lingkungan suhu rendah untuk menilai kemampuan produk dalam menahan dan menahan suhu rendah dalam waktu lama, proses pengujian tidak menerapkan bias, dan pengujian kelistrikan dapat dilakukan setelah pengujian dikembalikan ke suhu normal.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendahJESD22-A122A-2016 Uji siklus dayaMenyediakan standar dan metode untuk pengujian siklus daya paket komponen solid-state, melalui siklus pengalihan bias yang menyebabkan distribusi suhu tidak merata di dalam paket (PCB, konektor, radiator), dan mensimulasikan mode tidur siaga dan operasi beban penuh, serta pengujian siklus hidup untuk tautan terkait dalam paket komponen solid-state. Pengujian ini melengkapi dan memperbesar hasil pengujian JESD22-A104 atau JESD22-A105, yang tidak dapat mensimulasikan lingkungan yang keras seperti ruang mesin atau pesawat terbang dan pesawat ulang-alik.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji kejut termalKualifikasi Khusus Aplikasi JESD94B-2015 menggunakan metode pengujian berbasis pengetahuanPengujian perangkat dengan teknik pengujian keandalan berkorelasi memberikan pendekatan yang dapat diskalakan ke mekanisme kegagalan dan lingkungan pengujian lainnya, dan estimasi masa pakai menggunakan model masa pakai berkorelasi.Peralatan yang direkomendasikan: ruang uji suhu tinggi dan rendah, ruang uji guncangan panas dan dingin, ruang uji kehidupan yang sangat dipercepat
Dapatkan Penawaran
Jaringan IPv6 didukung