Pemeriksaan Siklus Stres Suhu (2)

Pemeriksaan Siklus Stres Suhu (2)

Pengenalan parameter tegangan untuk penyaringan siklus tegangan suhu:

Parameter tegangan dari penyaringan tegangan siklik suhu terutama meliputi hal-hal berikut: kisaran ekstrem suhu tinggi dan rendah, waktu tunggu, variabilitas suhu, nomor siklus

Kisaran ekstrem suhu tinggi dan rendah: semakin besar kisaran ekstrem suhu tinggi dan rendah, semakin sedikit siklus yang dibutuhkan, semakin rendah biayanya, tetapi tidak dapat melampaui batas daya tahan produk, tidak menimbulkan prinsip kesalahan baru, perbedaan antara batas atas dan bawah perubahan suhu tidak kurang dari 88°C, kisaran perubahan tipikal adalah -54°C hingga 55°C.

Waktu diam: Selain itu, waktu diam tidak boleh terlalu pendek, jika tidak maka akan terlambat untuk membuat produk yang diuji menghasilkan perubahan tegangan ekspansi termal dan kontraksi, sedangkan untuk waktu diam, waktu diam setiap produk berbeda-beda, Anda dapat merujuk pada persyaratan spesifikasi yang relevan.

Jumlah siklus: Mengenai jumlah siklus penyaringan tegangan siklik suhu, juga ditentukan dengan mempertimbangkan karakteristik produk, kompleksitas, batas atas dan bawah suhu dan laju penyaringan, dan jumlah penyaringan tidak boleh dilampaui, jika tidak maka akan menyebabkan kerusakan yang tidak perlu pada produk dan tidak dapat meningkatkan laju penyaringan. Jumlah siklus suhu berkisar dari 1 hingga 10 siklus [penyaringan biasa, penyaringan primer] hingga 20 hingga 60 siklus [penyaringan presisi, penyaringan sekunder], untuk menghilangkan cacat pengerjaan yang paling mungkin, sekitar 6 hingga 10 siklus dapat dihilangkan secara efektif, selain efektivitas siklus suhu, Terutama tergantung pada variasi suhu permukaan produk, daripada variasi suhu di dalam kotak uji.

Ada tujuh parameter utama yang mempengaruhi siklus suhu:

(1) Kisaran Suhu

(2) Jumlah Siklus

(3) Laju Perubahan Suhu

(4) Waktu Tinggal

(5) Kecepatan Aliran Udara

(6) Keseragaman Tegangan

(7) Uji fungsi atau tidak (Kondisi Pengoperasian Produk)

Klasifikasi kelelahan penyaringan stres:

Klasifikasi umum penelitian Kelelahan dapat dibagi menjadi Kelelahan Siklus Tinggi, Kelelahan Siklus Rendah, dan Pertumbuhan Retak Kelelahan. Dalam aspek Kelelahan Siklus Rendah, dapat dibagi lagi menjadi Kelelahan Termal dan Kelelahan Isotermal.

Akronim pemeriksaan stres:

ESS: Penyaringan stres lingkungan

FBT: Penguji papan fungsi

ICA: Penganalisis sirkuit

TIK: Penguji sirkuit

LBS: alat uji hubung singkat papan beban

MTBF: waktu rata-rata antara kegagalan

Waktu siklus suhu:

a.MIL-STD-2164(GJB 1302-90): Dalam uji penghilangan cacat, jumlah siklus suhu adalah 10, 12 kali, dan dalam deteksi bebas masalah adalah 10 ~ 20 kali atau 12 ~ 24 kali. Untuk menghilangkan cacat pengerjaan yang paling mungkin, diperlukan sekitar 6 ~ 10 siklus untuk menghilangkannya secara efektif. 1 ~ 10 siklus [pemeriksaan umum, pemeriksaan primer], 20 ~ 60 siklus [pemeriksaan presisi, pemeriksaan sekunder].

B.od-hdbk-344 (GJB/DZ34) Peralatan penyaringan awal dan tingkat unit menggunakan 10 hingga 20 loop (biasanya ≧10), tingkat komponen menggunakan 20 hingga 40 loop (biasanya ≧25).

Variabilitas suhu:

a.MIL-STD-2164(GJB1032) dengan jelas menyatakan: [Laju perubahan suhu siklus suhu 5℃/menit]

B.od-hdbk-344 (GJB/DZ34) Tingkat komponen 15 °C/menit, sistem 5 °C/menit

c. Skrining stres siklik suhu umumnya tidak menentukan variabilitas suhu, dan tingkat variasi derajat yang umum digunakan biasanya 5°C/menit.