Email Kami :
labcompanion@outlook.com
-
-
Requesting a Call :
+86 18688888286
Burn-in adalah uji stres listrik yang menggunakan tegangan dan suhu untuk mempercepat kegagalan listrik suatu perangkat. Burn-in pada dasarnya mensimulasikan masa pakai perangkat, karena eksitasi listrik yang diterapkan selama burn-in dapat mencerminkan bias terburuk yang akan dialami perangkat selama masa pakainya. Bergantung pada durasi burn-in yang digunakan, informasi keandalan yang diperoleh dapat berkaitan dengan masa pakai awal perangkat atau keausannya. Burn-in dapat digunakan sebagai monitor keandalan atau sebagai penyaringan produksi untuk menyingkirkan potensi kematian bayi dari kelompok tersebut.
Burn-in biasanya dilakukan pada suhu 125 derajat C, dengan eksitasi listrik yang diterapkan pada sampel. Proses burn-in difasilitasi dengan menggunakan papan burn-in (lihat Gambar 1) tempat sampel dimuat. Papan burn-in ini kemudian dimasukkan ke dalam oven burn-in (lihat Gambar 2), yang memasok tegangan yang diperlukan ke sampel sambil mempertahankan suhu oven pada suhu 125 derajat C. Bias listrik yang diterapkan dapat bersifat statis atau dinamis, tergantung pada mekanisme kegagalan yang dipercepat.
Gambar 1. Foto Papan Burn-in Kosong dan Berisi Soket
Distribusi siklus hidup pengoperasian sejumlah perangkat dapat dimodelkan sebagai kurva bak mandi, jika kegagalan diplot pada sumbu y terhadap masa operasi pada sumbu x. Kurva bak mandi menunjukkan bahwa tingkat kegagalan tertinggi yang dialami oleh sejumlah perangkat terjadi selama tahap awal siklus hidup, atau awal masa pakai, dan selama periode keausan siklus hidup. Antara tahap awal masa pakai dan tahap keausan terdapat periode panjang di mana perangkat mengalami kegagalan yang sangat jarang.
Gambar 2. Dua contoh oven burn-in
Burn-in monitor kegagalan awal kehidupan (ELF), sesuai namanya, dilakukan untuk menyaring potensi kegagalan awal kehidupan. Burn-in dilakukan selama 168 jam atau kurang, dan biasanya hanya selama 48 jam. Kegagalan listrik setelah burn-in monitor ELF dikenal sebagai kegagalan awal kehidupan atau kematian bayi, yang berarti bahwa unit-unit ini akan gagal sebelum waktunya jika digunakan dalam operasi normal.
Uji High Temperature Operating Life (HTOL) merupakan kebalikan dari uji burn-in monitor ELF, yang menguji keandalan sampel dalam fase keausan. HTOL dilakukan selama 1000 jam, dengan titik baca antara pada 168 H dan 500 H.
Meskipun eksitasi listrik yang diterapkan pada sampel sering didefinisikan dalam bentuk voltase, mekanisme kegagalan yang dipercepat oleh arus (seperti elektromigrasi) dan medan listrik (seperti pecahnya dielektrik) dapat dipahami juga dipercepat oleh burn-in.
Dapatkan Penawaran
Jaringan IPv6 didukung