Keandalan - Lingkungan

Keandalan - Lingkungan

Analisis keandalan didasarkan pada data kuantitatif sebagai dasar kualitas produk, melalui simulasi eksperimental, produk dalam waktu tertentu, penggunaan kondisi lingkungan tertentu, penerapan spesifikasi tertentu, probabilitas keberhasilan penyelesaian tujuan kerja, hingga data kuantitatif sebagai dasar jaminan kualitas produk. Di antara semuanya, pengujian lingkungan merupakan item analisis umum dalam analisis keandalan.

Pengujian keandalan lingkungan adalah pengujian yang dilakukan untuk memastikan bahwa keandalan fungsional suatu produk dipertahankan selama masa pakai yang ditentukan, dalam semua keadaan saat produk tersebut dimaksudkan untuk digunakan, diangkut, atau disimpan. Metode pengujian khusus adalah dengan memaparkan produk pada kondisi lingkungan alami atau buatan, mengevaluasi kinerja produk dalam kondisi lingkungan penggunaan, pengangkutan, dan penyimpanan aktual, serta menganalisis dampak faktor lingkungan dan mekanisme kerjanya.

Laboratorium Analisis Nanoreliabilitas Sembcorp terutama mengevaluasi keandalan IC dengan meningkatkan suhu, kelembaban, bias, IO analog, dan kondisi lainnya, serta memilih kondisi untuk mempercepat penuaan sesuai dengan persyaratan desain IC. Metode pengujian utamanya adalah sebagai berikut:

Uji siklus suhu TC

Standar eksperimen: JESD22-A104

Tujuan: Untuk mempercepat pengaruh perubahan suhu pada sampel

Prosedur pengujian: Sampel ditempatkan dalam ruang uji, yang berputar di antara suhu yang ditentukan dan dipertahankan pada setiap suhu setidaknya selama sepuluh menit. Suhu ekstrem bergantung pada kondisi yang dipilih dalam metode pengujian. Total tegangan sesuai dengan jumlah siklus yang diselesaikan pada suhu yang ditentukan.

kapasitas peralatan

Uji bias suhu tinggi BLT

Standar eksperimen: JESD22-A108

Tujuan: Pengaruh bias suhu tinggi pada sampel

Proses pengujian: Masukkan sampel ke dalam ruang percobaan, atur tegangan dan nilai batas arus yang ditentukan dalam catu daya, coba jalankan pada suhu ruangan, amati apakah arus terbatas terjadi pada catu daya, ukur apakah tegangan terminal chip input memenuhi harapan, catat nilai arus pada suhu ruangan, dan atur suhu yang ditentukan di ruang. Ketika suhu stabil pada nilai yang ditetapkan, nyalakan pada suhu tinggi dan catat nilai arus suhu tinggi

Kapasitas peralatan:

Uji stres HAST yang sangat dipercepat

Standar eksperimen: JESD22-A110/A118 (EHS-431ML, EHS-222MD)

Tujuan: HAST menyediakan berbagai kondisi tegangan konstan, termasuk suhu, kelembapan, tekanan, dan bias. Dilakukan untuk menilai keandalan peralatan yang dikemas tanpa penutup yang beroperasi di lingkungan yang lembap. Berbagai kondisi tegangan dapat mempercepat infiltrasi uap air melalui senyawa cetakan enkapsulasi atau di sepanjang antarmuka antara bahan pelindung eksternal dan konduktor logam yang melewati enkapsulasi. Ketika air mencapai permukaan bagian yang kosong, potensial yang diberikan menciptakan kondisi elektrolit yang merusak konduktor aluminium dan memengaruhi parameter DC perangkat. Kontaminan yang ada pada permukaan chip, seperti klorin, dapat mempercepat proses korosi secara signifikan. Selain itu, terlalu banyak fosfor dalam lapisan pasivasi juga dapat bereaksi dalam kondisi ini.

Perangkat 1 dan perangkat 2

Kapasitas peralatan:

Perangkat 1

Perangkat 2

Uji siklus suhu dan kelembaban THB

Standar eksperimen: JESD22-A101

Tujuan: Pengaruh perubahan suhu dan kelembaban terhadap sampel

Proses percobaan: Masukkan sampel ke dalam ruang percobaan, atur tegangan dan nilai batas arus yang ditentukan pada catu daya, coba jalankan pada suhu ruangan, amati apakah arus terbatas terjadi pada catu daya, ukur apakah tegangan terminal chip input memenuhi harapan, catat nilai arus pada suhu ruangan, dan atur suhu yang ditentukan di ruang. Ketika suhu stabil pada nilai yang ditetapkan, nyalakan pada suhu tinggi dan catat nilai arus suhu tinggi

Kapasitas peralatan:

Uji kejut suhu TSA & TSB

Standar eksperimen: JESD22-A106

Tujuan: Untuk mempercepat pengaruh perubahan suhu pada sampel

Proses pengujian: Sampel dimasukkan ke dalam ruang uji, dan suhu yang ditentukan diatur di dalam ruang tersebut. Sebelum dipanaskan, dipastikan bahwa sampel telah terpasang pada cetakan, yang mencegah kerusakan akibat sampel jatuh ke dalam ruang selama percobaan.

Kapasitas peralatan: